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您的位置:網(wǎng)站首頁 > 技術(shù)文章 > 可靠性測試中HALT實驗與HASS實驗的區(qū)別 
高低溫快速溫變濕熱試驗箱 技術(shù)規(guī)格:
型 號  | SES-225  | SES-408  | SES-800  | SES-1000  | SES-1500  | 
內(nèi)箱尺寸 (W x D x H cm)  | 50×60×75  | 60×80×85  | 80×100×100  | 100×100×100  | 100×100×150  | 
外箱尺寸 ( W x D x H cm)  | 115×125×160  | 125×145×170  | 145×195×185  | 155×225×195  | 250×125×190  | 
承載重量  | 20kg  | 30kg  | 30kg  | 50kg  | 75KG  | 
溫度速率  | 等均溫/平均溫5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min。  | ||||
溫度范圍  | -70℃~﹢180℃  | ||||
溫度均勻度  | ≤2℃  | ||||
溫度波動度  | ±0.5℃  | ||||
溫度偏差  | ±2℃  | ||||
溫變范圍  | -40℃/-55℃~+125℃(高溫至少+85℃以上)  | ||||
濕度范圍  | 20%~98%  | ||||
濕度偏差  | ±3%(>75%RH), ±5%(≤75%RH)  | ||||
腳輪  | 4個(外形尺寸不含腳輪)腳輪增高50~120mm  | ||||
觀察窗  | 450×450mm帶加熱裝置防止冷凝和結(jié)霜  | ||||
測試孔  | φ100mm位于箱體右側(cè)(人面朝大門)  | ||||
照明燈  | 35W/12V  | ||||
節(jié)能調(diào)節(jié)方式  | 冷端PID調(diào)節(jié)方式(即加熱不制冷,制冷不加熱),比平衡調(diào)溫方式節(jié)能40%  | ||||
加熱方式  | 鎳鉻合金電熱絲(3重超溫保護)  | ||||
制冷機  | 德國*品牌壓縮機  | ||||
制冷劑  | 環(huán)保制冷劑R404a / R23(臭氧耗損指數(shù)均為0)  | ||||
冷卻方式  | 水冷(水溫7℃~28℃,水壓0.1~0.3Mpa),以便確保降溫性能  | ||||
控制器  | 7寸彩色觸摸屏控制器  | ||||
運行方式  | 程式運行+定值運行  | ||||
傳感器  | PT100  | ||||
通訊功能  | RS485 標配USB  | ||||
曲線記錄功能  | 觸摸屏自動記錄  | ||||
電源  | 380V±10%/50HZ,三相四線+地線(3P+N+G)  | ||||
什么是HALT試驗?
 
HALT(Highly Accelerated Life Test)的全稱是高加速壽命試驗。HALT是一種通過施加逐級遞增的環(huán)境應(yīng)力或工作載荷,來加速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱點的試驗方法。主要應(yīng)用于產(chǎn)品開發(fā)階段,它能以較短的時間促使產(chǎn)品的設(shè)計和工藝缺陷暴露出來,從而為我們做設(shè)計改進,提升產(chǎn)品可靠性提供依據(jù)。
 
HALT是美國Hobbs先提出并持續(xù)進行完善,主要目的是通過增加被測物的極限值,進而增加其穩(wěn)健性及可靠性。
 
HALT按臺階方式施加應(yīng)力,能夠盡快發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷、工作極限及破壞極限。其加于產(chǎn)品的應(yīng)力有振動、高低溫、溫度循環(huán)、電力開關(guān)循環(huán)、電壓邊際及頻率邊際測試等。利用該試驗可迅速找出產(chǎn)品設(shè)計及制造的缺陷、改善設(shè)計缺陷、增加產(chǎn)品可靠性并縮短其上市周期,同時還可改進設(shè)計、積累產(chǎn)品可靠性基礎(chǔ)數(shù)據(jù),為后續(xù)的產(chǎn)品研發(fā)提供重要依據(jù)。
HALT 的主要測試功能如下:
利用高環(huán)境應(yīng)力將產(chǎn)品設(shè)計缺陷激發(fā)出來,并加以改善;
了解產(chǎn)品的設(shè)計能力及失效模式;
作為高應(yīng)力篩選及稽核規(guī)格制定的參考;
快速找出產(chǎn)品制造過程的瑕疵;
增加產(chǎn)品的可靠性,減少維修成本;
建立產(chǎn)品設(shè)計能力數(shù)據(jù)庫,為研發(fā)提供依據(jù)并可縮短設(shè)計制造周期。
HALT應(yīng)用于產(chǎn)品的研發(fā)階段,能夠及早發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品可靠性的薄弱環(huán)節(jié)。其所施加的應(yīng)力要遠遠高于產(chǎn)品在正常運輸、貯藏、使用時的應(yīng)力。
HALT包含的如下內(nèi)容: 
1) 逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品失效或出現(xiàn)故障;
2)  采取臨時措施,修正產(chǎn)品的失效或故障;
3) 繼續(xù)逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品再次失效或出現(xiàn)故障,并再次加以修正;
4)  重復(fù)以上應(yīng)力-失效-修正的步驟;找出產(chǎn)品的基本操作界限和基本破壞界限。
 
什么是HASS試驗?
 
HASS (High Accelerated StressScreen)的全稱是高加速應(yīng)力篩選試驗。HASS是產(chǎn)品通過HALT得出工作極限或破壞極限值后在生產(chǎn)階段所做的高加速應(yīng)力篩選,一般要求100%的產(chǎn)品參加篩選。
 
HASS目的是為了減少產(chǎn)品的潛在缺陷,并盡量在產(chǎn)品出廠前消除這些缺陷。HASS主要是通過加速應(yīng)力方式以期在短時間內(nèi)找到有缺陷的產(chǎn)品,縮短產(chǎn)品改進周期。
 
HASS應(yīng)用于產(chǎn)品的生產(chǎn)階段,以確保所有在HALT中找到的改進措施能夠得已實施。HASS還能夠確保不會由于生產(chǎn)工藝和元器件的改動而引入新的缺陷。
HASS包含如下內(nèi)容: 
1) 進行預(yù)篩選,剔除可能發(fā)展為明顯缺陷的隱性缺陷;
2) 進行探測篩選,找出明顯缺陷;
3) 故障分析,改進措施。
 
HASS 和 HALT 的區(qū)別:
 
1、階段不一樣:HALT是開發(fā)階段,HASS是生產(chǎn)早期階段,或者是生產(chǎn)階段。
 
2、目的不同:HALT試驗是一種摸底試驗,目的是發(fā)現(xiàn)設(shè)計的短板并改進,HASS是一種通過性試驗,是量產(chǎn)質(zhì)量控制。
 
3、強度不一樣:HALT試驗可能會造成產(chǎn)品的損傷,而HASS試驗不應(yīng)該造成產(chǎn)品的損傷,因為HASS試驗之后,產(chǎn)品是需要進行售賣的。而HALT試驗之后的產(chǎn)品是嚴禁再出貨的。
 
4、試驗方法不同:HALT試驗是加速應(yīng)力,直至產(chǎn)品失效;HASS試驗是多次重復(fù)但是無產(chǎn)品磨損,逐步修正,完成試驗的輪廓的過程。
 
5、HALT試驗和HASS試驗對失效率優(yōu)化,處于器件生命周期的不同階段。